Каталог оборудования

Поиск по каталогу

Например: спектрорадиометр, электронная микроскопия, анализ поверхности

Фильтры

Направление

Электронная микроскопия Спектроскопия и анализ материалов Оптическая микроскопия Микроэлектроника и полупроводники Пробоподготовка и материалография Комплектующие, расходные материалы и ПО

Тип оборудования

EBSD-системы EDS-системы ICP-MS-спектрометры ICP-OES-спектрометры WDS-системы Абразивная бумага и диски Абразивно-отрезные станки Автоматические системы шлифовки и полировки Алмазные суспензии и пасты Анализаторы CS/ONH Вакуумные держатели Вакуумные компоненты Волнодисперсионные РФА-спектрометры Двулучевые FIB-SEM-системы Держатели для ПЭМ и СЭМ Держатели и столики для образцов Держатели образцов Детекторы EDS, WDS, EBSD Зондовые станции Измерительные микроскопы Измерительные столики ИК-Фурье спектрометры Инвертированные микроскопы Инвертированные микроскопы Инспекционные микроскопы Ионные имплантации Ионные полировщики и системы ионного утонения Кабели, адаптеры и интерфейсные модули Камеры для микроскопов Контроль дефектов Конфокальные микроскопы Кюветы, лампы и фильтры для спектральных приборов Макроскопы Микроскопы для инспекции полупроводниковых пластин Микроскопы для контроля печатных плат и электронных компонентов Микротвердомеры Мишени и материалы для напыления Мобильные оптико-эмиссионные спектрометры Моторизация микроскопов Нагревательные, охлаждающие и механические столики Настольные РФА-анализаторы Настольные СЭМ Оборудование для заливки образцов Оборудование для ионной имплантации Оборудование для литографии Оборудование для подготовки образцов микроэлектроники Оборудование для холодной заливки Оборудование для электролитического травления Оборудование для электрополировки Образцы для калибровки Объективы Объективы и окуляры Окуляры Оптико-эмиссионные спектрометры Осветители Осветители и источники света Отрезные станки Плазменные очистители ПО для анализа и обработки данных ПО для обработки данных и формирования отчётов ПО для спектрального анализа Полировальные станки Полировальные суспензии Полировальные ткани Поляризационные микроскопы Портативные РФА-анализаторы Портативные твердомеры Прессы для горячей запрессовки Прецизионные отрезные станки Приборы для измерения шероховатости Программное обеспечение для анализа изображений Программное обеспечение для микроанализа Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ) Профилометры Прямые металлографические микроскопы Раман-спектрометры Расходники для материалографии Расходные материалы для заливки Расходные материалы для резки Реактивы для травления Рентгеновские дифрактометры Рентгеновские толщиномеры покрытий Рентгенофлуоресцентные спектрометры Системы анализа дефектов Системы анализа изображений Системы измерения толщины плёнок и покрытий Системы катодолюминесценции Системы контроля геометрии и топографии Системы контроля и анализа материалов полупроводников Системы фильтрации и расходники для вакуумных систем Системы электрических измерений Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) Смолы, формы и держатели образцов Спектрорадиометры Спектрофотометры Стандарты и эталоны Стереомикроскопы Сушильное и очистное оборудование для образцов Твердомеры по Бринеллю Твердомеры по Виккерсу Твердомеры по Роквеллу Трибометры Ультразвуковые ванны Универсальные твердомеры Установки макротравления Установки напыления Установки осаждения Установки углеродного напыления Цифровые камеры для микроскопов Цифровые микроскопы Шлифовально-полировальные комплексы Шлифовальные станки Электронные микрозонды

Всё оборудование

По выбранным параметрам оборудование пока не добавлено.

Подбор для задачи:

Найдено: 0 решений

FieldSpec 4 Hi-Res NG

Переносной полевой спектрорадиометр высокого разрешения

Спектральный диапазон: 350–2500 нм
Спектральное разрешение: VNIR 3нм, SWIR 6нм
Поле зрения: 25

Запросить КП Подробнее

Leica DMI8

Инвертированный металлографический микроскоп

Образцы массой до 30 кг
Макрообзор до 35,7 мм
Светлое/тёмное поле, ДИК, поляризация, флуоресценция и UC-3D

Запросить КП Подробнее

ИП Жураковский
Константин Юрьевич

ИНН 667479907286

ОГРНИП 323665800263230

Контакты

+7 (915) 017-52-89 zhurakovsky_const@mail.ru Политика cookies Политика конфиденциальности

Наука требует точности. Даже в cookies 🍪

Мы используем cookies, чтобы сайт работал корректно, а мы могли понимать, какие разделы действительно полезны посетителям.

Продолжая пользоваться сайтом, вы соглашаетесь с использованием cookies и с обработкой данных в соответствии с Политикой использования cookie.

01 Какая у вас задача?

Выберите вариант

Контроль качества Анализ структуры материалов Пробоподготовка образцов Оснащение лаборатории Метрология и поверка Нужна консультация

02 Где будет использоваться оборудование?

Выберите вариант

Лаборатория (НИИ/исследование) Производство Образование/учебные цели Частная лаборатория Другое

03 Бюджет

04 Сроки

05 Дополнительно необязательно

06 Номер, по которому Вам можно перезвонить

07 Ваша электронная почта

08 Документы необязательно Перетащите файлы сюда или выберите с компьютераPDF / DOCX / XLSX

Нажимая кнопку «Получить подбор и КП», я соглашаюсь
с политикой обработки персональных данных

Отправлено!

Рассмотрим Вашу заявку в ближайшее время